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上傳時間:2019-03-16 21:20:48 瀏覽次數:

技術原理

采用國際先進的外差式多頻相移三維光學測量技術,單幅測量幅面大小(從30mm-1m)、測量精度、測量速度等性能都達到國際先進水平,與傳統的格雷碼加相移方法相比,測量精度更高,單次測量幅面更大、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小,而且能夠測量表面劇烈變化的工件,可以掃描測量幾毫米到幾十米(與IDSS系統配合使用,可有效控制累計誤差)的工件和物體。

設備特點

l 采用國際先進的外差式多頻相移技術,同時也支持格雷碼加相移的測量方法

l 根據用戶需求,配備一組或多組鏡頭,可實現多種測量幅面:32mm×24mm、64mm×48mm、128mm×96mm、200mm×150mm、400mm×300mm、800mm×600mm等

l 掃描過程全自動拼接,支持基于標志點和被測物特征的兩種拼接方式

l 掃描效率高,支持手動選區掃描,提高掃描速度和后期處理效率

l 在掃描得到物體三維形狀的同時還可以掃描得到并輸出紋理信息

l 絕大多數物體無須特殊處理可直接掃描,可以掃描彩色甚至黑色物體

l 后處理功能非常豐富,具備點云優化降噪、點云融合(重疊面刪除)、點云補洞、三角化等自動后處理功能

l 輔助分析工具非常豐富,具備點云測距、多種坐標變換、元素擬合、各種角度及尺寸分析功能

l 具備多種數據輸出接口:點云(ASC,IGS),三角形網格(STL),紋理貼圖(OBJ)

應用領域

逆向設計:快速獲取零件的表面點云數據,建立三維數模,從而達到快速設計產品目的;

產品檢測:生產線產品質量控制和形位尺寸檢測,特別適合復雜曲面的檢測,可以檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等產品;

其他應用:文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、醫學整容及修復等。

技術參數

單幅掃描精度

0.008-0.05mm

測量點云間距

0.05-0.5mm

單次掃描時間

2-4s

測量結果格式

點云(ASC,PLY,WRL),三角形網格(STL),紋理貼圖(OBJ)

系統兼容性

兼容32位、64位系統

應用案例

(1)逆向反求

(2)質量檢測

(3)文化創意

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